排針排母焊接后虛焊檢測(cè)需通過(guò)外觀排查、電氣測(cè)試、環(huán)境驗(yàn)證等多維度操作,準(zhǔn)確識(shí)別焊盤假焊、引腳未完全浸潤(rùn)等問(wèn)題,避免信號(hào)傳輸中斷或設(shè)備故障,檢測(cè)方法適配批量生產(chǎn)與手工裝配場(chǎng)景。
目視與放大鏡檢查直觀有效,用3-5倍放大鏡觀察排針排母引腳與PCB板焊盤的結(jié)合處,合格焊點(diǎn)呈光滑的月牙形,焊錫完全包裹引腳根部,無(wú)空隙、針孔或毛刺。虛焊表現(xiàn)為焊錫僅覆蓋引腳表面、未與焊盤充分融合,或焊錫呈球狀凸起、與焊盤分離,部分存在焊錫拉絲、冷焊裂紋等痕跡,適合批量生產(chǎn)的初步篩查。
萬(wàn)用表通斷測(cè)試定位,將萬(wàn)用表調(diào)至蜂鳴檔,紅黑表筆分別接觸排針排母引腳與對(duì)應(yīng)的PCB板測(cè)試點(diǎn),蜂鳴發(fā)聲說(shuō)明連接正常,無(wú)響應(yīng)則判定為虛焊。測(cè)試時(shí)需逐pin檢測(cè),重要排查電源pin腳與信號(hào)pin腳,同時(shí)記錄導(dǎo)通電阻,正常導(dǎo)通電阻應(yīng)≤0.5Ω,超過(guò)1Ω可能存在虛焊隱患,適配電子設(shè)備檢測(cè)。

通斷測(cè)試儀批量檢測(cè)有效,將排針排母的pin腳與測(cè)試儀探針陣列對(duì)齊,啟動(dòng)設(shè)備后自動(dòng)掃描所有引腳導(dǎo)通狀態(tài),測(cè)試結(jié)果以聲光報(bào)警或屏幕顯示呈現(xiàn),虛焊引腳會(huì)標(biāo)注具體位置。該方法檢測(cè)速度達(dá)每秒10-20pin,適合大批量生產(chǎn)場(chǎng)景,如消費(fèi)電子、工業(yè)控制板的批量質(zhì)檢。
熱沖擊測(cè)試驗(yàn)證穩(wěn)定性,將焊接后的PCB板放入高低溫試驗(yàn)箱,在-40℃至85℃區(qū)間循環(huán)10-20次,每次循環(huán)保持30分鐘,取出后再次進(jìn)行通斷測(cè)試。若部分引腳從導(dǎo)通變?yōu)閿嚅_(kāi),說(shuō)明存在隱性虛焊,高溫下焊錫與引腳分離,適配車載、戶外等環(huán)境設(shè)備檢測(cè)。
X射線檢測(cè)穿透排查,針對(duì)高密度排針排母(間距≤1.27mm)或隱藏式焊點(diǎn),利用X射線檢測(cè)儀觀察焊錫內(nèi)部結(jié)構(gòu),虛焊會(huì)呈現(xiàn)焊錫與引腳、焊盤之間的空隙,或焊錫未完全填充引腳與焊盤間隙,適合微型電子設(shè)備、高精儀器的深度檢測(cè)。
檢測(cè)后處理措施明確,發(fā)現(xiàn)虛焊需重新焊接,清理引腳氧化層后補(bǔ)焊錫,確保焊錫充分浸潤(rùn);批量檢測(cè)中若虛焊率超過(guò)3%,需排查焊接溫度、助焊劑質(zhì)量或引腳鍍層問(wèn)題,調(diào)整焊接參數(shù)。
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